Warszawa: Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu
Numer ogłoszenia: 257822 - 2010; data zamieszczenia: 19.08.2010
OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy

Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe.

Ogłoszenie dotyczy: zamówienia publicznego.

Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych: tak, numer ogłoszenia w BZP: 230166 - 2010r.

Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia: nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY

I. 1) NAZWA I ADRES: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.

I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO: Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA

II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu.

II.2) Rodzaj zamówienia: Dostawy.

II.3) Określenie przedmiotu zamówienia: Mikroskop metalograficzny musi posiadać następujące cechy: a) statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania zapewniający pracę w świetle odbitym, z możliwością podpięcia monitora LCD do bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; b) wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignia zmiany techniki badawczej jasne/ciemne pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na przedniej ścianie statywu; c) port do podłączenia kamery z podziałem światła; d) nasadka okularowa z regulacją rozstawu źrenic; e) możliwość montażu w statywie mikroskopu zmieniacza powiększeń o zakresie od 1x - 2x działającego dla wszystkich portów wyjściowych obrazu, oraz funkcją odczytu aktualnego powiększenia za pomocą oprogramowania do analizy obrazu (automatyczna zmiana kalibracji); f) układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy min. 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową; g) lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem odbłyśnikiem z tyłu; h) układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; i) przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; j) w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; k) uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do 150x i obiektywów serii extra large working distance od 20x do 50x; l) w układzie oświetlacza EPI wbudowany minimum 4 gniazdowy, kołowy zmieniacz filtrów z wbudowanymi filtrami; minimum 3 typu: NCB11, ND4, ND16; m) miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem kodowania położenia miski i obiektywów i możliwością jej odczytu z poziomu oprogramowania; n) stolik mechaniczny o zakresie ruchu minimum 50x50mm; o) wbudowany w statyw układ zasilania o mocy 50W z płynną regulacją natężenia światła; p) współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła śruba mikro o dokładności pozycjonowania stołu nie gorszej niż 0.1 mm/obrót; r) Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole, polaryzacja, kontrast Nomarskiego; s) układ optyki korygowanej do nieskończoności; t) obiektyw klasy Epi Plan Fluor lub Semi-Plan Apochromat dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: - 5X (NA/WD : 0.15/18.00 mm); - 10X (NA/WD : 0.30/15.00 mm); - 20X (NA/WD : 0.45/4.50 mm); - 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm); - 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm). u) Na panelu frontowym mikroskopu gniazdo do instalacji slotów z wielkością ziarna i podziałką milimetrową. Wymagany osprzęt: A. Kamera cyfrowa z oprogramowaniem o następujących parametrach -matryca o rozdzielczości nie mniejszej niż 1280x1024; -tryb pracy w kolorze; -podłączenie za pomocą złącza USB. B. Oprogramowanie pomiarowe umożliwiające: -wstawianie tekstów i opisów na zdjęcie; -możliwość wykonywania ręcznych pomiarów obiektów obrazu; -wskaźnik pomiaru ostrości; -możliwość wstawiania skali i opisów; -funkcja wykonywania automatycznych i ręcznych pomiarów odcisków twardości i mikrotwardości w skali: Vickers, Brinell, Knoop; -eksport wyników pomiarów do plików WORD i EXCEL; -Zestaw komputerowy do pobierania danych, współpracujący z kamerą i oprogramowaniem* Dodatkowe wymagania: Oferent zapewnia szkolenie uwzględniające zasady użytkowania oraz konserwacji urządzenia. * Należy rozumieć jako zestaw składający się z jednostki centralnej, monitora oraz licencjonowanego oprogramowania systemowego. (dopuszcza się dostawę komputera przenośnego typu notebook). Zestaw musi posiadać możliwość importu oraz exportu danych poprzez wymienne nośniki pamięci typu pamięć flash i/lub kartę sieciową w standardzie 100Base-TX.

II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 38.63.40.00 - Mikroskopy optyczne .

SEKCJA III: PROCEDURA

III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: Przetarg nieograniczony

III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE

• Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej: nie

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA

IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: 19.08.2010.

IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT: 1.

IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT: 0.

IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

• Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna, ul.Arkuszowa 60, 01-934 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.

IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia (bez VAT): 98000,00 PLN.

IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ

• Cena wybranej oferty: 97900,00

• Oferta z najniższą ceną: 97900,00 / Oferta z najwyższą ceną: 97900,00

• Waluta: PLN.