To jest wynik przetargu. Zobacz także treść przetargu, którego dotyczy to ogłoszenie
Ogłoszenie z dnia 2008-12-30
Warszawa: Przetarg na dostawę: 1). systemu przestrzennego pomiaru pól odkształceń metoda elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI; 2). zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego; 3). zestawu ekstensometrów do pomiarów wysokotemperaturowych
Numer ogłoszenia: 267768 - 2008; data zamieszczenia: 30.12.2008
OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia: obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy: zamówienia publicznego.
Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych: tak, numer ogłoszenia w BZP: 232880 - 2008r.
Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia: nie.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES: Instytut Podstawowych Problemów Techniki Polskiej Akademii Nauk, ul. Świętokrzyska 21, Warszawa, woj. mazowieckie, tel. (022) 826 65 08, faks (022) 826 98 15.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO: Podmiot prawa publicznego.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) OKREŚLENIE PRZEDMOTU ZAMÓWIENIA
II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego: Przetarg na dostawę: 1). systemu przestrzennego pomiaru pól odkształceń metoda elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI; 2). zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego; 3). zestawu ekstensometrów do pomiarów wysokotemperaturowych.
II.1.2) Rodzaj zamówienia: Dostawy.
II.1.3) Określenie przedmiotu zamówienia: Przedmiotem zamówienia jest dostawa wysokiej klasy, fabrycznie nowego: 1). systemu przestrzennego pomiaru odkształceń metodą elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI, wyposażonego w trójwymiarową głowicę optyczną z dioda laserową, kamerą CCD do rejestracji obrazów oraz optykę oświetlenia; 2). zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego (digital optical micrometer), przeznaczonego do bezdotykowych pomiarów wielkości geometrycznych, takich jak średnica przedmiotu osiowosymetrycznego, odległość pomiędzy krawędziami przedmiotu lub odległość pomiędzy przedmiotami; 3). dwóch ekstensometrów wysokotemperaturowych do pomiarów zmian odkształceń próbki w kierunku równoległym do kierunku obciążenia (wydłużenie) oraz w kierunku poprzecznym (przewężenie).
II.1.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV): 38.41.00.00 - Przyrządy pomiarowe .
II.1.5) Całkowita końcowa wartość zamówienia (bez VAT) obejmująca wszystkie zamówienia i części: 347250.00 PLN.
SEKCJA IV: PROCEDURA
IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: Przetarg nieograniczony
IV.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
- Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej: nie
SEKCJA V: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA
Część NR: 1
Nazwa: Dostawa systemu przestrzennego pomiaru odkształceń metodą elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI
V.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: 17.11.2008.
V.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT: 1.
V.3) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:
- ELHYS Sp. z o.o, ul. Naukowa 45, 02-463 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.
V.4) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O NIE PODLEGAJĄCYCH ODRZUCENIU OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ
I NAJWYŻSZĄ CENĄ (bez VAT)
- Cena wybranej oferty: 245900.00
- Oferta z najniższą ceną: 245900.00 oferta z najwyższą ceną: 245900.00
- Waluta: PLN.
Część NR: 2
Nazwa: Dostawa zestawu pomiarowego cyfrowego mikrometru optycznego
V.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: 17.11.2008.
V.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT: 1.
V.3) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:
- KEYENCE Deutschland GmbH, Siemensstr. 1, 63263 Neu-Isenburg, kraj/woj. Niemcy.
V.4) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O NIE PODLEGAJĄCYCH ODRZUCENIU OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ
I NAJWYŻSZĄ CENĄ (bez VAT)
- Cena wybranej oferty: 54000.00
- Oferta z najniższą ceną: 54000.00 oferta z najwyższą ceną: 54000.00
- Waluta: PLN.
Część NR: 3
Nazwa: Dostawa dwóch ekstensometrów wysokotemperaturowych
V.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA: 17.11.2008.
V.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT: 1.
V.3) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:
- ELHYS Sp. z o.o., ul. Naukowa 45, 02-463 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.
V.4) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O NIE PODLEGAJĄCYCH ODRZUCENIU OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ
I NAJWYŻSZĄ CENĄ (bez VAT)
- Cena wybranej oferty: 47350.00
- Oferta z najniższą ceną: 47350.00 oferta z najwyższą ceną: 47350.00
- Waluta: PLN.
INNE PRZETARGI Z WARSZAWY
- Wsparcie dla systemu Load Balancer F5
- Wykonanie II etapu remontu podwórka z drogą dojazdową przy ul. Przemysłowej 34, 36, 38, Rozbrat 10/14 w Warszawie
- Usuwanie szkód powodziowych powstałych w wyniku powodzi we wrześniu 2024r. w korycie cieku Jasienicki przy Zespole Szkolno-Przedszkolnym ul. Szkolna w m. Jasienica gm. Jasienica
- Przebudowa wraz ze zmianą sposobu użytkowania budynku magazynowo - technicznego na budynek biurowo - administracyjny MSZ przy ul. Tanecznej 67B w Warszawie - część II
- Bieżące utrzymanie dróg gminnych i wewnętrznych na terenie Dzielnicy Ursus w podziale na zadania: Zadanie nr 2 Utrzymanie oznakowania pionowego i poziomego oraz urządzeń bezpieczeństwa ruchu.
- Dostawa lekkiego samochodu operacyjnego dla KW PSP w Warszawie.
więcej: przetargi w Warszawie »
PRZETARGI Z PODOBNEJ KATEGORII
- Doposażenie pracowni dla zawodu TI i TGiP - w ramach realizacji projektu pn.: "Absolwent ZS nr 2 w Wieluniu - nowoczesne technologie w transformacji".
- Dostawa wyposażenia do Laboratorium Opakowań na kierunku Logistyka oraz mikromierza talerzykowego
- SZP/242-267/2024 Dostawa jonometru laboratoryjnego - zestaw 1 szt. dla Katedry Zaawansowanych Technologii Materiałowych PWr.
- Dostawa, instalacja i uruchomienie wyposażenia na potrzeby laboratorium optyki przyrządowej oraz materiałów do stanowisk doświadczalnych i prowadzenia zajęć na kierunku kosmologia
- 302 - 1 058 217,60 EUR.
więcej: Przyrządy pomiarowe »
Uwaga: podstawą prezentowanych tutaj informacji są dane publikowane przez Urząd Zamówień Publicznych w Biuletynie Zamówień Publicznych. Treść ogłoszenia widoczna na eGospodarka.pl jest zgodna z treścią tegoż ogłoszenia dostępną w BZP w dniu publikacji. Redakcja serwisu eGospodarka.pl dokłada wszelkich starań, aby zamieszczone tutaj informacje były kompletne i zgodne z prawdą. Nie może jednak zagwarantować ich poprawności i nie ponosi żadnej odpowiedzialności za jakiekolwiek szkody powstałe w wyniku korzystania z nich.